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計測器校正・計量器校正

計測器・計量器校正 【寸法測定】

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各種寸法測定にも対応します!

当社は3次元座標測定機を保有している他、各種計測器を多数保有しており、製作された治具、ゲージ等、図面との差異や寸法が不明な測定対象品(以下、ワークとする)に対する寸法測定を実施しております。もちろん測定に使用する三次元座標測定機、測定顕微鏡や計測器は国際又は国家標準にトレーサブルなものを使用しますので、計測器の校正同様、トレーサビリティ証明の体制は万全です。また、寸法測定は温度管理を20℃±3℃に維持管理できる恒温室にて実施しており、安定して精度の高い測定が可能です。以下に寸法測定に使用する当社三次元座標測定機他、各種計測器等の標準器設備や、寸法測定の実績例を紹介いたします。

当社標準器設備の紹介

三次元座標測定機【東京精密製/型式:XYZAX AXCEL 9/10/6】

測定範囲…W850×D1000×H600mm/0.1μm
測定が困難な小型及び大型ワークの幾何特性※など、三次元座標測定機なら容易に測定が可能です。
※平面度、平行度、直角度、真直度、真円度、円筒度、位置度…etc.

三次元座標測定機

以下に当社が保有する三次元座標測定機の機能を紹介いたします。

  • ティーチング機能による自動測定
    同じタイプのワークを初回のみ手動測定することで、2個目以降の測定を自動化することができます。これにより、測定者に依存する誤差要因を限りなく低減させ、高速な測定が可能です。また、定期的な測定が必要な場合も、ほぼ初回と同じ条件での測定が可能です。
  • スキャニング測定(倣い測定)
    面あるいは線のスキャニング測定のご提案が可能です。最大で秒間200ポイントプロービングすることで、輪郭形状などの測定が可能です。これにより、複雑な形状のワークでも、高精度な幾何特性などの測定ができます。
  • 画像プローブによる非接触測定
    極小ワークや穴、軟らかいワークなど、プロービングでの接触測定ができないワークでも、専用スコープを用いた非接触での測定が可能です。スコープ角度の変更も可能なため、様々な方向からの座標測定が可能です。
    また、接触式プローブと同様に、手動測定、自動測定のどちらにも対応しており、顕微鏡のようなターゲットモニタによる任意位置でのポイント測定のほか、スキャニング測定にも対応いたします。

測定顕微鏡【ミツトヨ製/型式:MF-A1010C】

測定範囲…W100×D100mm/0.1μm
小型ワークなどの精密な測定が可能です。

測定顕微鏡

測長機【Mahr製/型式:PLM 600-2 、TRIMOS製/型式:LABC2000】

測定範囲…PLM 600-2:600mm/0.01μm 、LABC2000:2000mm/0.1μm
細長いワークの全長測定や、厚さ測定、リング形状の内径測定等、三次元座標測定機や測定顕微鏡より高精度な測定が可能です。

測長機

測長機

外側マイクロメータ(片球、両球、棒球面等)、内側マイクロメータ、デプスマイクロメータ…etc.

三次元座標測定機、測定顕微鏡、測長機等では測定が困難な小型・大型ワークの外径、内径、厚さ、深さ測定等、各種マイクロメータを使用した精密な測定が可能です。

外側マイクロメータ
内側マイクロメータ

寸法測定実績の紹介

以下に測定実績例を紹介させていただきます。

測定条件、納期や費用は別途お問い合わせください。

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